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文章出處:冠鋒空壓機(jī) 網(wǎng)責(zé)任編輯: 冠鋒空壓機(jī) 閱讀量: 發(fā)表時(shí)間:2019-07-23 16:40:45
電子元器件標(biāo)準(zhǔn)
GBT2470-1995電子設(shè)備用固定電阻器、固定電容器型號(hào)命名方法
GBT4475-1995敏感元器件術(shù)語(yǔ)
GBT13583-1992紅外探測(cè)器外形尺寸系列
GB/T4965-1985吸氣劑分類及型號(hào)命名方法
GBT333442016電子電氣產(chǎn)品中2,4-二硝基甲苯的測(cè)定氣相色譜-質(zhì)譜法
GBT33345-2016電子電氣產(chǎn)品中短鏈氯化石蠟的測(cè)定氣相色譜-質(zhì)譜法
GBT33351.120.電子電氣產(chǎn)品中砷、鈹、銻的測(cè)定第1部分:電感耦合等離子體
GBT33352-2016電子電氣產(chǎn)品中限用物質(zhì)篩選應(yīng)用通則X射線熒光光譜法
GB/T333532016電子電氣產(chǎn)品中的限用物質(zhì)三丁基錫和三苯基錫的測(cè)定氣相色譜
GBT32883-2016電子電氣產(chǎn)品中六溴環(huán)十二烷的測(cè)定高效液相色譜-質(zhì)譜法
GBT32887-2016電子電氣產(chǎn)品中多氯聯(lián)苯的測(cè)定氣相色譜-質(zhì)譜法
GBT32888-2016電子電氣產(chǎn)品中有機(jī)錫的篩選紅外光譜法
GBT32889-2016電子電氣產(chǎn)品中四溴雙酚A的測(cè)定氣相色譜質(zhì)譜法
GBT11297.10-2熱釋電材料居里溫度Tc的測(cè)試方法
GBT11297.112熱釋電材料介電常數(shù)的測(cè)試方法
GBT11297.8-2015熱釋電材料熱釋電系數(shù)的測(cè)試方法
GBT11297.92015熱釋電材料介質(zhì)損耗角正切tan的測(cè)試方法
GB/T29783-2013電子電氣產(chǎn)品中六價(jià)鉻的測(cè)定原子熒光光譜法
GB/T29784.1-20電子電氣產(chǎn)品中多環(huán)芳烴的測(cè)定第1部分:高效液相色譜法
GBT2978420電子電氣產(chǎn)品中多環(huán)芳烴的測(cè)定第2部分:氣相色譜-質(zhì)譜法
GB/T29784.3-20電子電氣產(chǎn)品中多環(huán)芳烴的測(cè)定第3部分:液相色譜質(zhì)譜法
GB/T29784.4-20.電子電氣產(chǎn)品中多環(huán)芳烴的測(cè)定第4部分:氣相色譜法
GB/T29785-2013電子電氣產(chǎn)品中六溴環(huán)十二烷的測(cè)定氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用法
GBT29786-2013電子電氣產(chǎn)品中鄰苯二甲酸酯的測(cè)定氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用法
GB/T28860-2012環(huán)氧粉末包封料膠化時(shí)間測(cè)定方法
GB/T28861-2012環(huán)氧粉末包封料熔融流動(dòng)性試驗(yàn)方法
GBT288622012環(huán)氧粉末包封料試樣加工方法
GBT16822.1997介電晶體介電性能的試驗(yàn)方法
GBT15653-1995金屬氧化物半導(dǎo)體氣敏元件測(cè)試方法
GB/T8763-1988非蒸散型吸氣材料及制品吸氣性能測(cè)試方法
GB31274-2014電子電氣產(chǎn)品限用物質(zhì)管理體系要求
GB/T26572-2011電子電氣產(chǎn)品中限用物質(zhì)的限量要求
GBT11296-1989紅外探測(cè)材料型號(hào)命名方法
GBT9530-1988電子陶瓷名詞術(shù)語(yǔ)
GBT9531.1-1988電子陶瓷零件技術(shù)條件
GBT9531.2.1988A類瓷件技術(shù)條件
GB/T9531.3-1988類瓷件技術(shù)條件
GBT9531.4-1988c類瓷件技術(shù)條件
GBT9531.5-1988類瓷件技術(shù)條件
GB/T9531.6-1988E類瓷件技術(shù)條件
GBT9531.7-1988F類瓷件技術(shù)條件
GBT3351-1982人造石英晶體的型號(hào)命名
GBT2689.1-1981恒定應(yīng)力壽命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn)方法總則
GBHT2689.2-1981壽命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn)的圖估計(jì)法(用于威布爾分布)
GBT2689.3-1981壽命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn)的簡(jiǎn)單線性無(wú)偏估計(jì)法(用于威布爾分布)
GBT2689.4-1981壽命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn)的最好線性無(wú)偏估計(jì)法(用于威布爾分布)
GBT15286-1994端接件總規(guī)范
GBT13947-1992電子元器件塑料封裝設(shè)備通用技術(shù)條件
GB16879-1997掩模曝光系統(tǒng)精密度和準(zhǔn)確度的表示準(zhǔn)則
GBrT16880-197光掩模缺陷分類和尺寸定義的準(zhǔn)則
GB/T17564319。果電氣元器件的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)元素類型和相關(guān)分類模式第3部分維護(hù)和
GB/T2471-1995電阻器和電容器優(yōu)先數(shù)系
GBT2691-2016電阻器和電容器的標(biāo)志代碼
GBT5839-1986電子管和半導(dǎo)體器件額定值制
GBrT15430-1995紅外探測(cè)器環(huán)境試驗(yàn)方法
GB/15647-1995穩(wěn)態(tài)可用性驗(yàn)證試驗(yàn)方法
GB/T50811985采電子產(chǎn)品現(xiàn)場(chǎng)工作可靠性、有效性和維修性數(shù)據(jù)收集指南
GB/T261252011采電子電氣產(chǎn)品六種限用物質(zhì)(鉛、汞、鎘、六價(jià)鉻、多溴聯(lián)苯和
GBT5076-1985具有兩個(gè)軸向引出端的圓柱體元件的尺寸測(cè)量
GB/T5078-1985單向引出的電容器和電阻器所需空間的測(cè)定方法
GB/T72892017電學(xué)元器件可靠性失效率的基準(zhǔn)條件和失效率轉(zhuǎn)換的應(yīng)力模型
GB/T2816232011自動(dòng)操作用元器件的包裝第3部分:表面安裝元器件在連續(xù)帶上
GBT16512-1996抑制射頻千擾固定電感器第1部分總規(guī)范
GBT16513-1996抑制射頻千擾固定電感器第2部分分規(guī)范試驗(yàn)方法和-般要求
GB16517-1996采石英晶體元件電子元器件質(zhì)量評(píng)定體系規(guī)范第3部分分規(guī)范鑒
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GB/T16161998石英晶體元件電子元器件質(zhì)量評(píng)定體系規(guī)范第2部分:分規(guī)范能
GBT15652195金屬氧化物半導(dǎo)體氣敏元件總規(guī)范
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